标准编号ASTM F1535-00 (Withdrawn)
标准名称Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance
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标准状态
出版社
批准文号
发布日期2000-06-10
实施日期
废止日期
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