| 标准编号 | SAE J 1752/2 |
| 标准名称 | Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits -- Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
| 标准编号 | SAE J 1752/2 |
| 标准名称 | Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits -- Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
