| 标准编号 | MIL-STD-750/2 (W/ CHANGE-3) |
| 标准名称 | DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD: MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES - TEST METHODS 2001 THROUGH 2999 (29-APR-2013) |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
| 标准编号 | MIL-STD-750/2 (W/ CHANGE-3) |
| 标准名称 | DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD: MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES - TEST METHODS 2001 THROUGH 2999 (29-APR-2013) |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
