| 标准编号 | SAE J 1752/2:2003 (Superseded) |
| 标准名称 | Measurement Of Radiated Emissions From Integrated Circuits - Surface Scan Method (loop Probe Method) 10 Mhz To 3 Ghz |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | 2003-01-21 |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
| 标准编号 | SAE J 1752/2:2003 (Superseded) |
| 标准名称 | Measurement Of Radiated Emissions From Integrated Circuits - Surface Scan Method (loop Probe Method) 10 Mhz To 3 Ghz |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | 2003-01-21 |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
