| 标准编号 | DIN 50455-2 (1999-11) |
| 标准名称 | Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | 1999-11-01 |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
| 标准编号 | DIN 50455-2 (1999-11) |
| 标准名称 | Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists |
| 主编部门 | |
| 标准状态 | |
| 出版社 | |
| 批准文号 | |
| 发布日期 | 1999-11-01 |
| 实施日期 | |
| 废止日期 | |
| 替换信息 | |
| 前言 | |
| 无 |
